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TestAndTrace-SPI

ASCOT GmbH übergibt den ersten Prototypen seines TestAndTrace-SPI Robustheitstesters an NXP

Beverstedt, September 2011

Der Halbleiterhersteller NXP Semiconductors legt großen Wert auf die Robustheit seiner Produkte.

Die ASCOT GmbH hat daher sein TestAndTrace System entwickelt, das sowohl als digitaler sowie auch als analoger Waveformgenerator agieren kann und dabei gleichzeitig die gesendeten und empfangenen Daten digital und analog aufzeichnet. Des weiteren hat die ASCOT GmbH eine Software für diese TestAndTrace SPI Box entwickelt die es dem Kunden erlaubt sein SPI Interface mit aller Arten von Timings, Signalen und logischen Störungen auf Robustheit zu testen. Das System arbeitet mit einem Altera StratixIV FPGA der es ermöglicht die Signale mit einer Bandbreite von 100MHz und einer Auflösung von 2.5ns zu generieren.

Mittlerweile sind bei der NXP Semiconductors Deutschland GmbH fünf dieser Geräte im Einsatz.

Heiko Rühlemann
Geschäftsführer der ASCOT GmbH